<nobr id="lmkk5"><meter id="lmkk5"></meter></nobr>
  • <object id="lmkk5"></object>
  • <tr id="lmkk5"></tr>

      探傷儀V1(IIW)、V2(IIW2)試塊的異同及應用

      點擊次數:   更新時間:20/07/03 10:25:07     來源:www.pstvalumni.com關閉分    享:

        探傷儀V1(IIW)和V2(IIW2)試塊的異同及應用
        標準試塊的基本要求:
        標準試塊的材質應均勻,內部雜質少,無影響使用的缺陷。加工容易,不易變形和繡蝕,具有良好的聲學性能。試塊的平行度、垂直度、粗糙度和尺寸精度都應經過嚴格檢驗并符合一定的要求。
        標準試塊要用平爐鎮靜鋼或電爐軟鋼制作,如20號碳鋼。
        試塊上的平底孔應檢驗其直徑、孔底表面粗糙度、平面度等。常用下述檢查方法:先用無腐蝕性溶劑清洗孔并干燥,然后用注射器將硅橡膠注入孔內,抽出注射器,插入大頭針,待橡膠凝固后借助大頭針將橡膠模型取出,在光學投影儀上檢查孔底粗糙度和平整程度。
        常用標準試塊:
        IIW試塊(V 1試塊):IIW是國際焊接學會的英文縮寫。改試塊是荷蘭代表首先提出來的,故稱荷蘭試塊。改試塊形狀似船型,因此又叫船型試塊。IIW試塊材質相當于我國20號鋼,正火處理,晶粒度7-8級。

       

        IIW試塊(V1試塊)的主要用途:
        1.調整縱波檢測范圍和掃描速度(時基線比例):利用試塊上25mm和100mm尺寸。
        2.效驗儀器的水平線性、垂直線性和動態范圍:利用試塊上25mm和100mm尺寸。
        3.測定直探頭和儀器組合的遠場分辨力:利用試塊上85、91和100尺寸。
        4.測定直探頭和儀器組合后的最大穿透能力:利用Φ50mm有機玻璃塊底面的多次反射波。
        5.測定直探頭與儀器組合的盲區:利用試塊上Φ50mm有機玻璃圓弧面至側面間距5mm和10mm。
        6.測定斜探頭的入射點:用R100圓弧面。
        7.測定斜探頭的折射角:折射角在35°~76°范圍內用Φ50mm孔測,折射角在74°~80°范圍內用Φ1.5mm圓孔測。
        8.測定斜探頭和儀器組合的靈敏度余量:利用試塊R100或Φ1.5mm。
        9.調整橫波檢測范圍和掃描速度:由于縱波聲程91mm相當于橫波聲程50mm,因此可以利用試塊上91mm來調整橫波的檢測范圍和掃描速度。
        10.測定斜探頭聲束軸線的偏離:利用試塊的直角棱邊測。
        IIW2試塊(V 2試塊):IIW2試塊也是荷蘭代表提出來的國際焊接學會標準試塊,由于外形類似牛角,故又稱牛角試塊。與IIW試塊相比,IIW2試塊質量輕、尺寸小、形狀簡單、容易加工和便于攜帶,但功能不及IIW試塊。

       

        IIW2試塊的主要用途:
        1.測定斜探頭的入射點:利用R25與R50圓弧反射面測。
        2.測定斜探頭的折射角:利用Φ5mm恒通孔測。
        3.測定儀器水平、垂直線和動態范圍:利用厚度12.5測。
        4.調整檢測范圍和掃描速度:縱波直探頭利用12.5底面的多次反射波調整,橫波斜探頭利用R25和R50調整。
        5.測定儀器和探頭的組合靈敏度:利用Φ5mm和R50圓弧面測。

       

       

       

       

      聯系人:周經理
      手機:135-2455-2810(金相切割機咨詢熱線)
      QQ :2556068868
      郵箱:sales@hiebp.com
      地 址:浙江臺州溫嶺澤國機電五金城綜合樓56號

      青青草国产97免费观看